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Elektrophysik MINITEST3100

更新時間：2025-05-31

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廠商性質(zhì)：代理商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

Elektrophysik MINITEST3100，EPK涂層測厚儀，測量多種產(chǎn)品的涂層厚度。

在線詢價聯(lián)系我們

產(chǎn)品介紹：

品牌	ElektroPhysik/德國EPK	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池

Elektrophysik MINITEST3100

Elektrophysik MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；

所有型號均可配所有探頭

高精確度和重復(fù)性

儲存讀數(shù)文件，可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機

一點和兩點校準(zhǔn)

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司以“優(yōu)質(zhì)成就價值——Focus On Better Quality"為宗旨，專注于計量檢測和材料分析設(shè)備的研究、引進與推廣，公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標(biāo)。

探頭		量程	低端分辨率	誤差	最小曲率半徑(凸/凹)	最小測量區(qū)域直徑	最小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng)法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm/N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	50μm	φ15x62mm
	N2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。

N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。

CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0～1600μm,φ30mm

兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度

F05

0～500μm,φ3mm

磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等

量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭

量程低端分辨率很高(0.1μm)

0～3000μm,φ5mm

磁性測頭

可用于較厚的覆層

F1.6/90

0～1600μm,φ5mm

90度磁性測頭

尤其適合于在管內(nèi)壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10

0～10mm,φ20mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F20

0～20mm,φ40mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F50

0～50mm,φ300mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02

0～200μm,φ2mm

非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr

0～80μm,φ2mm

適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6

0～1600μm,φ2mm

非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層

尤其適合在管內(nèi)壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10

0～10mm,φ50mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N20

0～20mm,φ70mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N100

0～100mm,200mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

CN02

10～200μm,φ7mm

用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

epk測厚儀

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