菲希爾x熒光射線測厚儀X-ray

菲希爾x熒光射線測厚儀X-ray

Fischerscope XAN215 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

菲希爾x射線測厚儀產品用途

菲希爾x射線測厚儀典型的應用領域有:

珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

菲希爾測厚儀黃金制品和K金制品分析

菲希爾測厚儀鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

x熒光射線測厚儀其他合金分析和鍍層厚度測量

x熒光射線測厚儀多鍍層厚度測量 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，菲希爾x-ray通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

DUALSCOPE MPO涂層測厚儀是德國菲希爾制造的。Fischer MPO涂層測厚儀集成了磁性測厚儀(P-MP0D)和渦流測厚儀(I-MP0D)的功能。德國Fischer公司的菲希爾MP0涂層測厚儀是D-MP0D儀器的改進產品。它可用于測量鐵基和非鐵基基體上的涂層厚度。比如:

1.銅、鉻、鋅等電鍍層的厚度?；蛴推帷⑼苛?、搪瓷等的涂層。在鋼鐵材料上。

2.鋁箔和膠帶材料的厚度，如鋁、銅和金、紙和塑料薄膜。

3.銅、鋁、鎂和鋅等有色金屬材料上的涂層厚度。

4.鋁和鎂材料上陽極氧化膜的厚度。

5.各種鋼和有色金屬材料上熱噴涂層的厚度。