無損檢測電鍍層厚度菲希爾x熒光測厚儀

無損檢測電鍍層厚度菲希爾x熒光測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

菲希爾x射線熒光測厚儀特點

菲希爾x熒光測厚儀根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm

鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源

采用經(jīng)實踐驗證的短測量時間的比例接收器

準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換

初級過濾器：固定或3個自動切換

固定樣品臺或手動XY載物臺

用于光學(xué)觀察測量點的攝像頭

經(jīng)認證的全面防護設(shè)計；

菲希爾XULM應(yīng)用

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS

>電子行業(yè)連接器和觸點上的鍍層

德國菲希爾MPO/MP0涂層測厚儀概述：

MPO涂層測厚儀為德國生產(chǎn)涂層測厚儀，MPO涂層測厚儀集合了磁性測厚儀（P-MP0D）和渦流測厚儀（I-MP0D）兩種儀器的功能，MPO涂層測厚儀是D-MP0D，MPOR型儀器的改進型產(chǎn)品。可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如：

1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。

3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。

5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。