Fischerscope x-ray膜厚測試儀fischer

Fischerscope x-ray膜厚測試儀fischer

德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀介紹：
1、適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
2、頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。
3、能通過“應(yīng)用工具箱"(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化。
4、畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）
5、圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
6、對試件與視準(zhǔn)器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)

Fischerscope x-ray的產(chǎn)品特點;

1、FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。
2、XDL-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進行測量。

菲希爾FMP系列測厚儀的配件：