菲希爾x射線測厚儀X-ray XDL 240

FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

 菲希爾x射線測厚儀X-ray XDL 240

XDL 240 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
FISCHERSCOPE  X-RAY XDL  240 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動(dòng)方
式，測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動(dòng)測量，如測量印刷線路板
分析電鍍?nèi)芤?br/>XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。
由于采用了 FISCHER *基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣
品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。