菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

1.射線源與探測器

X 射線管：帶鈹窗口的鎢靶，三檔高壓可調(diào) (30kV/40kV/50kV)，功率 120W，壽命較上一代提升40%+

探測器：比例計數(shù)器，高計數(shù)率，快速測量響應

準直器：可選固定或可更換，最小測量光斑約0.2mm

初級濾光片：固定或自動切換，適配不同元素測量需求

2. 測量能力

元素范圍：氯 (Cl,17) 至鈾 (U,92)

同時測量元素數(shù)：最多 24 種 (需 WinFTM® BASIC 軟件)

測量方法：菲希爾基本參數(shù)法 (FP)，支持無標樣測量

鍍層標準：符合 ISO 3497 與 ASTM B 568 國際標準

測量距離：0-80mm，電動 Z 軸行程 140mm，自動精度補償

3. 機械系統(tǒng)

XY 工作臺：手動操作，行程 200mm×200mm (標準)，激光定位輔助快速找樣

Z 軸：電動驅(qū)動，可編程控制，適應復雜形狀樣品 (如腔體零件)

樣品臺：可容納多種尺寸樣品，防護蓋確保輻射安全

4. 軟件系統(tǒng)

WinFTM® 軟件：直觀操作界面，支持測量程序創(chuàng)建、數(shù)據(jù)管理、報告生成

功能模塊：鍍層厚度測量、材料成分分析、溶液分析、統(tǒng)計過程控制 (SPC)

數(shù)據(jù)輸出：支持多種格式導出，可與 ERP 系統(tǒng)集成