菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

XDAL237 配備高精度比例計數(shù)管探測器，可在短時間內(nèi)實現(xiàn)高計數(shù)率，確保重復(fù)測量精度。其微聚焦 X 射線管（鎢靶，最高 50kV/50W）結(jié)合 4 個可切換準(zhǔn)直器和 3 種基本濾片，可靈活適應(yīng)不同材料的檢測需求，最小測量點直徑達(dá) 0.1 毫米。設(shè)備還集成了帶變焦功能的彩色視頻攝像頭和激光指示器，支持測量點的快速定位與精確定位。

自動化設(shè)計

該儀器采用可編程的 XY 軸電動工作臺及 Z 軸升降系統(tǒng)，可實現(xiàn)批量樣品的自動化掃描和測量，特別適合生產(chǎn)線中的質(zhì)量控制。例如，在電子元器件檢測中，工作臺能自動移動至預(yù)設(shè)位置，配合電調(diào) Z 軸實現(xiàn)微米級精度的鍍層厚度分析。

測量范圍與精度

適用鍍層厚度范圍為 0.01-50μm，可檢測從鋁（Al）到鈾（U）的多種元素，滿足從超薄鍍層（如半導(dǎo)體芯片）到厚鍍層（如汽車零部件）的全場景需求。在珠寶行業(yè)黃金飾品檢測中，其精度可達(dá)到 ±0.01μm，滿足嚴(yán)苛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。