FISCHERSCOPE X - RAY XULM 240：這是一款性能好、設(shè)計(jì)緊湊的 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，由先前的 XULM - xym 換代而來。常用于無損測量細(xì)小工件上的鍍層厚度和材料分析，特別適合質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)及生產(chǎn)過程控制中的測量工作。其比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，進(jìn)而進(jìn)行高精度測量。與所有 Fischerscope x - ray 儀器一樣，具備出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，顯著減少校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。該儀器配備微聚焦 x 射線管以及可電動切換的視準(zhǔn)器和基本濾片，更適合對微小型工件進(jìn)行測量。其可測量單性金屬鍍層厚度、合金鍍層厚度、雙鍍層厚度、雙鍍層（其中一層是合金）厚度、三鍍層厚度等，測量小區(qū)域時(shí)，最小測量點(diǎn)大小約 0.09x0.09 mm ，測量厚度精度高，當(dāng) Au 厚度大于 0.1 μm 時(shí)，有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下 <±5%, 無標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下 <±10% 。

FISCHERSCOPE X - RAY XAN500：這是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，也是目前通用的 X 射線熒光系統(tǒng)。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。其出色的精確性和長期穩(wěn)定性，大大減少了校準(zhǔn)時(shí)間和精力。XAN500 采用先進(jìn)的硅漂移探測器，能達(dá)到高分析精度及探測靈敏度。依靠菲希爾的基本參數(shù)法，可在無校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品成分及測量樣品鍍層厚度。該儀器為手持式便攜設(shè)計(jì)，重量僅 1.9 千克，便于攜帶和操作，無論是大型工件還是難以觸及的位置，都能輕松測量。它符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)，一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行 6 個(gè)小時(shí)。測量點(diǎn)為 3 毫米 Ø，擁有高分辨率硅漂移檢測器，防護(hù)等級達(dá)到用于戶外的 IP54 等級。還可選用作臺式設(shè)備的測量箱，使用完整版 WinFTM® 軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)。一次測試可同時(shí)測定鍍層的厚度和成分（例如，F(xiàn)e 上的 ZnNi 合金），能對未知合金進(jìn)行無標(biāo)準(zhǔn)片測量，方便測量大型鍍層零件（例如機(jī)器部件和外殼）以及進(jìn)行電鍍層的測試。其三點(diǎn)支撐設(shè)計(jì)使其易于正確放置，并在整個(gè)測量過程中保持穩(wěn)定。此外，通過可選的測量箱，可將其快速轉(zhuǎn)換為臺式儀器，用于檢查小零件，如螺母和螺栓 。該儀器還可整合到生產(chǎn)線的控制系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)質(zhì)量監(jiān)控 。

菲希爾 X 射線測厚儀 XDAL237：這是一款在材料分析和鍍層測厚領(lǐng)域應(yīng)用廣泛的能量色散型儀器。該測厚儀配備可編程運(yùn)行的 XY 軸工作臺以及 Z 軸升降系統(tǒng)，在自動化測量方面表現(xiàn)出色，可精準(zhǔn)完成超薄鍍層厚度的無損測量以及材料成分分析任務(wù)。例如在珠寶制造行業(yè)，對于黃金飾品表面鍍層厚度的檢測，能夠給出準(zhǔn)確測量數(shù)據(jù)，助力企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量。它還是一款界面友好的臺式測量儀器，高精度且可編程運(yùn)行的工作臺，配合電調(diào)的 Z 軸升降系統(tǒng)，為自動測量提供有力保障。同時(shí)，裝備的高分辨率彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大放大功能，可對測量位置進(jìn)行精確定位，在電子元器件的鍍層厚度測量中，能清晰捕捉測量點(diǎn)，確保測量準(zhǔn)確性 。

德國菲希爾 FISCHER XUL \ XULM X 射線熒光鍍層測厚儀：在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中，若需要快速且精確地測定鍍層厚度，該系列測量儀器是理想解決方案。其 X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測量，能在測量臺上輕松定位樣品。該系列所有 X 射線儀器均配備相同探測器，用戶可根據(jù)自身測量需求，選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位。豐富多樣的硬件選項(xiàng)，可滿足各種測量需求。還可選配微聚焦 X 射線管，用于測量直徑僅為 100 µm 的微型結(jié)構(gòu)和測量表面 。

菲希爾合金分析儀 X 射線熒光鍍層測厚儀：采用基本參數(shù)法，內(nèi)置 12 純元素頻譜庫，可在無標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)情況下進(jìn)行測量。擁有 windows7 以上中文操作界面，搭配 WinFTM 專業(yè)測試軟件，具備連接 PC 和打印機(jī)的 USB 接口。其元素測量范圍為 Cl（17）--U（92），最多可測量 24 種元素 23 層鍍層。手動 X/Y 平臺移動范圍≥95x150mm，可用工作臺面≥420x450mm 。電動 Z 軸支持手動 / 自動聚焦，可移動范圍≥140mm 。采用 DCM（測量距離補(bǔ)償法）可遠(yuǎn)距離對焦測量腔體樣品，可達(dá) 80mm 深度 。滿足可變高壓 30KV,40KV,50KV 三種可調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同測試需求。標(biāo)配準(zhǔn)直器為 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器 。X 射線探測器為比例接收器。具備完整的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能，數(shù)據(jù)組帶時(shí)間和時(shí)期功能，統(tǒng)計(jì)功能包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值等；還可輸入公差范圍，計(jì)算 CP 和 Cpk 值，超范圍值時(shí)儀器會自動報(bào)警提示。測量誤差方面，當(dāng)鍍層厚度≥0.5um 時(shí)，頂層鍍層測量精度≤5% 。具備 MQ 值顯示，用于判定測量程式是否與樣品匹配，避免誤操作。標(biāo)準(zhǔn)片配備 12 種基準(zhǔn)純元素（Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr） 。此外，還具備高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數(shù) 40 - 160 倍 。

菲希爾 X 射線測厚儀 XDL240：運(yùn)用 X 射線熒光光譜法，采用無損檢測方式，具備自動聚焦功能，可保障樣品完整性與測量準(zhǔn)確性。在硬件性能方面，配備電動 X/Y 平臺，移動范圍≥95x150mm，可用工作臺面≥420x450mm，保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺自動移到放置樣品位置，操作便捷；電動 Z 軸支持手動 / 自動聚焦，移動范圍≥140mm，可適配不同高度樣品；采用測量距離補(bǔ)償法 (DCM)，可實(shí)現(xiàn) 80mm 深度的腔體樣品遠(yuǎn)距離對焦測量；可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調(diào)節(jié)，可根據(jù)不同測試樣品和場景靈活選擇；標(biāo)配 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器，還有多種準(zhǔn)直器可供選擇；采用比例接收器作為 X 射線探測器，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠；內(nèi)置高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數(shù) 40 - 160 倍，沿初級 X 射線光束方向觀察測量位置，配備手動聚焦、十字線 (帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸) 以及可調(diào)節(jié)亮度的 LED 照明，還有激光光點(diǎn)用于準(zhǔn)確定位樣品 。