DUALSCOPE DMP40涂層測(cè)厚儀儀器功能：

• 連續(xù)測(cè)量模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi)模擬顯示

• 可使用矩陣測(cè)量模式進(jìn)行大量測(cè)量

• 取平均值：只儲(chǔ)存若干個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值

• 區(qū)域測(cè)量：提起探頭后才儲(chǔ)存測(cè)量過程中的平均值

• 自動(dòng)測(cè)量：無需提起探頭，儀器自動(dòng)獲得數(shù)值

• 離奇值控制：儀器可自動(dòng)排除錯(cuò)誤的測(cè)量值

• DUALSCOPE DMP40涂層測(cè)厚儀自動(dòng)識(shí)別底材

• 外部觸發(fā)測(cè)量(例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁)

• 使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)(僅限于磁感應(yīng)法)

• USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)

• 電池供電和交流電源(可選件)供電

• 可以儲(chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。

• 可以儲(chǔ)存 20.000 個(gè)讀數(shù)

• 可以儲(chǔ)存 4.000 個(gè)數(shù)據(jù)組

• 數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息

• 糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)

• 應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息

• 通過電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱(可選件：MP-Name軟件)

• 數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值

• 測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示

• 可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

• 測(cè)量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺和聲音警告