MINITEST 725/735/ 745涂層測(cè)厚儀:
創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提高了測(cè)量精度。
測(cè)量范圍為15毫米，F(xiàn)、N或FN探頭可更換為內(nèi)部或外部探頭。
-FN探頭可自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁)或N(非磁)基體，操作簡單，誤差。

SIDSP是如何工作的？
與傳統(tǒng)技術(shù)不同的是，SIDSP在探頭頂端產(chǎn)生并控制激勵(lì)信號(hào)，返回的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換處理，為您帶來準(zhǔn)確的涂層厚度值。這種*數(shù)字處理技術(shù)也應(yīng)用于現(xiàn)代通信技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))，如數(shù)字濾波、基帶轉(zhuǎn)換、平均值、隨機(jī)分析等等。與模擬信號(hào)處理相比，這種技術(shù)可以獲得更好的信號(hào)質(zhì)量和精確度。厚度值通過探針電纜以數(shù)字方式傳輸?shù)斤@示設(shè)備。與普通模擬探頭相比，SIDSP探頭具有決定性的優(yōu)勢(shì)，樹立了涂層厚度測(cè)量的新標(biāo)準(zhǔn)。