X熒光射線測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250是一款高性能、緊湊且通用的適用的x射線測量儀器。它非常適合無損檢測涂層厚度測量和材料分析。
XAN 250特別適合于測量和分析薄涂層，即使具有非常復(fù)雜的組成或小的濃度。

應(yīng)用領(lǐng)域：

•測量電子器件中的功能涂層，從幾納米開始和半導(dǎo)體行業(yè)

•消費(fèi)者保護(hù)的痕量分析，例如玩具中的鉛含量

•分析珠寶和手表中對精度要求*高的合金工業(yè)和金屬精煉廠

•大學(xué)和行業(yè)研究

介紹：

XAN 250設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式儀器。樣本定位快速簡便。X射線源和半導(dǎo)體探測器組件位于儀器的下室中，以便測量方向從樣品下方開始，樣品由透明支撐窗帶有變焦和十字準(zhǔn)線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品放置并且允許精確的測量點(diǎn)調(diào)整。
測量的整個(gè)操作和評估以及清晰的演示使用功能強(qiáng)大且用戶友好的WinFTM®軟件。